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聚酰亞胺薄膜厚度要如何測(cè)試


發(fā)布時(shí)間：2022-6-28 15:12:04 瀏覽次數(shù)：

摘要：鑒于聚酰亞胺薄膜的厚度均勻性對(duì)應(yīng)用效果、生產(chǎn)成本的重大意義，監(jiān)測(cè)、控制聚酰亞胺薄膜的厚度均勻性已成為工業(yè)生產(chǎn)中重要的、不可或缺的環(huán)節(jié)。

    上一篇我們送上的文章是聚酰亞胺薄膜的應(yīng)用領(lǐng)域為了更加全面的介紹聚酰亞胺、聚醚醚酮的各項(xiàng)性能、規(guī)格、參數(shù)等等，我們將持續(xù)發(fā)布有關(guān)知識(shí)，幫助大家了解更多的信息。
    鑒于聚酰亞胺薄膜的厚度均勻性對(duì)應(yīng)用效果、生產(chǎn)成本的重大意義，監(jiān)測(cè)、控制聚酰亞胺薄膜的厚度均勻性已成為工業(yè)生產(chǎn)中重要的、不可或缺的環(huán)節(jié)。
 
在所有監(jiān)測(cè)方法中，“在線實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)+離線抽樣檢測(cè)”模式是目前企業(yè)中朂為典型和有效的厚度控制方案。在線實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)方便快速、及時(shí)的獲取批量薄膜的厚度數(shù)據(jù)，如若發(fā)現(xiàn)與規(guī)定的數(shù)值偏差波動(dòng)較大，可及時(shí)停止生產(chǎn)線運(yùn)轉(zhuǎn)，排查問題所在。
 
常見的在線測(cè)厚技術(shù)有射線技術(shù)、近紅外技術(shù)等。
 
射線測(cè)厚技術(shù)采用放射性同位素原理，根據(jù)使用的放射源不同，分為β射線、X射線和γ射線幾種形式，這種方法性能穩(wěn)定、精度高、受電磁干擾小，缺點(diǎn)在于射線源具有放射性，會(huì)對(duì)操作者人身造成傷害，另外放射源需要定期更換，費(fèi)用昂貴。
 
近紅外測(cè)厚技術(shù)是利用不同物質(zhì)對(duì)近紅外領(lǐng)域（1.3～3.0μm）光線的吸收特性連續(xù)測(cè)量物質(zhì)厚度的，借助自身特點(diǎn)，可進(jìn)行單層薄膜厚度、多層薄膜總厚度及各層厚度測(cè)量，且近紅外光為電磁波，無放射性，操作安全。
 
在線厚度技術(shù)雖然利于在宏觀方面把握薄膜厚度的變化情況，但在測(cè)試精度的穩(wěn)定性和測(cè)試范圍的適應(yīng)性方面卻大大遜色于非在線測(cè)厚技術(shù)。非在線測(cè)試技術(shù)分為以機(jī)械測(cè)厚代表的接觸式測(cè)量法和非接觸式測(cè)量法，非接觸式測(cè)量法包括光學(xué)、渦輪、超聲波測(cè)厚等，渦輪測(cè)厚和超聲波測(cè)厚所使用的儀器均為小型便攜式設(shè)備，要求試樣表面平整光滑，否則易出現(xiàn)較大的數(shù)據(jù)偏差。
 
光學(xué)測(cè)厚技術(shù)理論上可達(dá)到極高的測(cè)試精度，但其原理特性對(duì)操作環(huán)境和維護(hù)方法的要求極高，因而使用范圍較窄。
 
機(jī)械測(cè)厚是朂傳統(tǒng)的測(cè)厚方法，測(cè)試數(shù)據(jù)穩(wěn)定，對(duì)試樣沒有選擇性，其更大特點(diǎn)在于接觸探頭測(cè)量前在試樣表面施加一定的壓力，這樣可以有效避免其他非接觸測(cè)試技術(shù)測(cè)量表面平整度較差或具有一定彈性的材料時(shí)而出現(xiàn)的數(shù)據(jù)偏差較大的問題。因此機(jī)械測(cè)厚更適合于聚酰亞胺薄膜厚度均勻性的離線測(cè)試。
 
由于機(jī)械式測(cè)厚儀器的精度取決于測(cè)試元件的精度，因而在選購(gòu)儀器時(shí)首先要選擇配置高精度的位移傳感器的測(cè)試儀，這是保證測(cè)厚數(shù)據(jù)精準(zhǔn)的必要前提；其次，注意儀器內(nèi)部電機(jī)的質(zhì)量，因?yàn)槠溥\(yùn)行速度和噪音都會(huì)對(duì)測(cè)試產(chǎn)生一定影響；第三，觀察測(cè)量頭和砧鐵的平行度和光潔度，以減少測(cè)試誤差的產(chǎn)生。另外，儀器的自動(dòng)化程度，如自動(dòng)進(jìn)樣、自動(dòng)顯示厚度更大值、朂小值、平均值和統(tǒng)計(jì)偏差等特征也是選購(gòu)儀器的重要參考因素。

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